據(jù)英國《自然·通訊》雜志3日發(fā)表的一篇醫(yī)學研究論文，中美科學家對一種名為“NanoVelcro”的芯片進行了大幅優(yōu)化，新芯片包含很細的硅納米線，可針對胎盤植入譜系（PAS）疾病進行無創(chuàng)早期診斷，這種疾病會導致孕產婦在分娩中死亡。

胎盤植入譜系疾病包括侵入性胎盤、植入性胎盤、穿透性胎盤，具體是指妊娠期間胎盤過度侵入子宮肌層，且在分娩時無法脫落。這會造成嚴重出血，甚至有時會導致孕產婦死亡。目前診斷該疾病的方法雖然也很有效，但有時依然會出現(xiàn)不夠準確的情況，抑或是在資源匱乏的地區(qū)難以實現(xiàn)。

此次，包括美國加州大學洛杉磯分校、中國深圳人民醫(yī)院等機構研究人員在內的團隊，對之前開發(fā)的“NanoVelcro”芯片進行了優(yōu)化，新芯片包含很細的硅納米線，外部涂有能檢測循環(huán)滋養(yǎng)層細胞（組成胎盤的細胞）的抗體。這些細胞會在胎盤發(fā)育過程中單個或聚集脫落到母體血液循環(huán)中，細胞數(shù)量的增加可能提示胎盤植入譜系疾病。

研究團隊對168位孕婦進行了血檢，有些孕婦被診斷出患有胎盤植入譜系疾病，有些被診斷為胎盤前置（胎盤覆蓋宮頸內口），有些胎盤形成正常。團隊發(fā)現(xiàn)，PAS組的單個和聚集循環(huán)滋養(yǎng)層細胞計數(shù)比其他兩個組更高。同時，研究還發(fā)現(xiàn)，單個和聚集循環(huán)滋養(yǎng)層細胞的數(shù)量，有助于在妊娠早期將PAS從前置胎盤和正常胎盤中區(qū)分出來。

研究人員指出，現(xiàn)在需利用更大樣本開展進一步研究。胎盤植入譜系疾病會導致孕產婦在分娩中出現(xiàn)非常嚴重的狀況，而這種新的診斷技術則有望在不久的將來補充現(xiàn)有技術，提高妊娠早期診斷胎盤植入譜系疾病的準確性。

總編輯圈點

老話說，產婦是“鬼門關上走一遭”，隨著醫(yī)學不斷進步，孕產婦生命已得到極大程度的保護。但胎盤植入，仍是產科少見但非常兇險的并發(fā)癥，如不及時果斷處理，依然會危及產婦生命。這一疾病在近年來發(fā)病率呈上升趨勢，因此我們很高興看到，一種能及早診斷并阻止危險發(fā)生的技術手段，正走向實用。（記者張夢然）